了解任何產品前，都需要多多了解它的特點，了解產品給自己帶來的好處，了解適不適合自己，所以方阻測試儀也不例外，下面我們就一起來了解一下它的特點，希望對您有幫助。
方阻測試儀是一種按照相近的行業標準和國外A.S.T.M規范，專業檢測半導體薄層電阻（表面電阻）的新式儀器設備，可用來檢測通常半導體器件、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜等相同物品的薄層電阻。
方阻測試儀規模性集成電路為關鍵中心;用標準電源和運算放大器構成高精密穩流源;帶回路合理有效正常的標示電路;并搭配大型的LCD顯示讀值，使儀器設備具備體積小、重量較輕、外觀設計美、易操控、檢測速度更快、精度高的特性。
方阻測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3寸大液晶屏幕顯示，
同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。
該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，
對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，
